HOME > Presentation > Detail直交配置FIB-SEMの組織・形態観察へのアプリケーション原 徹. 平成27年度日本顕微鏡学会マルチスケール電子線トモグラフィ研究部会. 2015-12-05. InvitedNIMS author(s)HARA, ToruFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 11:13:05 +0900 Updated at: 2024-03-05 11:46:07 +0900