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NIMS Awardシンポジウム2026

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カソードルミネッセンスと透過電顕を使ったダイヤモンド薄膜断面の欠陥解析
(Defects Analysis of Diamond Films in Cross Section Using Cathodoluminescence and High Resolution Transmission Electron Microscop)

D.Takeuchi, H.Watanabe, S.Yamanaka, H.Sawada, H.Ichinose, T.Sekiguchi, H.Okushi, D.Takeuchi, H.Watanabe, S.Yamanaka, H.Sawada, H.Ichinose, T.Sekiguchi, H.Okushi.
BIAMS6. 2000年11月12日-2000年11月16日. 招待講演

NIMS著者

    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

      作成時刻: 2017-02-18 01:57:42 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:39:09 +0900

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