HOME > 口頭発表 > 書誌詳細低温走査トンネル顕微鏡によるSi(100)表面超構造の操作鷺坂 恵介, 藤田 大介, 小口 信行. 第13回インテリジェント材料/システムシンポジウム. 2004.NIMS著者鷺坂 恵介藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:11:58 +0900更新時刻: 2017-07-10 18:56:01 +0900