Ion Track Formation in Crystalline Silicon under C60 Ion Irradiation Ranging from 60 keV to 9 MeV
7th International Conference on Ion Beam in Materials Engineering and Characterization (IBMEC 2022). 2022年11月16日-2022年11月19日. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2022-11-19 03:26:14 +0900 更新時刻: 2024-03-05 12:22:02 +0900