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Microscopic Mechanism of Defect Reactions in GaN

小田将人, 宮崎 剛.
International Symposium on Wide Gap Semiconductor Growth, Process and Device Simulation 2021 (ISWGPD2021). 2021. 招待講演

NIMS著者


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    作成時刻: 2021-06-10 03:00:24 +0900更新時刻: 2024-03-05 12:21:38 +0900

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