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Scanning transmission electron microscope -transition edge sensor (STEM-TES)

Keiichi Tanaka, 原 徹, Kazuhisa Mitsuda, Keisuke Maehata.
11th Asia-Pacific Microscopy Conference(APMC11). 2016年05月23日-2016年05月27日.

NIMS著者


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    作成時刻: 2017-01-08 03:41:10 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:25:45 +0900

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