HOME > 口頭発表 > 書誌詳細シリコンおよびゲルマニウムナノワイヤ中への不純物ドーピングと評価(Doping and characterization of impurity atoms in Si and Ge nanowires)深田 直樹. 2012 RCIQE International Workshop for Green Electronics. 2012. 招待講演NIMS著者深田 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:24:56 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:43:55 +0900