表面Ｘ線散乱法およびＸ線定在波法によるNi/C多層膜界面の解析
(Interface analysis of Ni/C multilayers by X-ray surface scattering and standing wave techniques)
日本金属学会２０００秋期大会. 2000年10月01日-2000年10月03日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-14 11:11:04 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:07:10 +0900