HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Si基板上に直接成長させたGeのRBS測定(II)(RBS measurement of Ge directly grown on Si substrate(II))河野 健一郎, 朴成鳳, 石川靖彦, 和田一実. 2013年第74回応用物理秋期学術講演会. 2013年09月16日-2013年09月20日.NIMS著者河野 健一郎Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:56:34 +0900 更新時刻: 2017-07-10 21:42:16 +0900