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(Influence of Electric Field near Surface on Characteristic X-ray Emissionfrom Al2O3 Targets Bombarded with 30 keV Ga+ Ions)

Jiancun RAO, 長谷川 明, Renchao CHE, 竹口 雅樹, 古屋 一夫.
International Symposium on Surface Science and Nanotechnology. 2005.

NIMS著者


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    作成時刻 :2017-02-25 01:04:46 +0900 更新時刻 :2017-07-10 19:28:54 +0900

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