HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Influence of Electric Field near Surface on Characteristic X-ray Emissionfrom Al2O3 Targets Bombarded with 30 keV Ga+ Ions)Jiancun RAO, 長谷川 明, Renchao CHE, 竹口 雅樹, 古屋 一夫. International Symposium on Surface Science and Nanotechnology. 2005年11月14日-2005年11月17日.NIMS著者竹口 雅樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-25 01:04:46 +0900 更新時刻: 2017-07-10 19:28:54 +0900