Quantifying Sulfur Defects during the MOCVD Growth of MoS2 by Atomic-Resolution Lateral Force Microscopy
SSDM 2026 (2026 International Conference on Solid State Devices and Materials). 2026年09月14日-2026年09月17日.
NIMS著者
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作成時刻: 2026-09-19 03:06:54 +0900 更新時刻: 2026-09-19 03:06:54 +0900