HOME > 口頭発表 > 書誌詳細n型ダイヤモンド/窒化物半導体へテロ接合における電子濃度の解析小出 康夫. 日本金属学会秋季大会. 2004年09月28日-2004年09月30日.NIMS著者小出 康夫Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:20:36 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:03:57 +0900
