HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Nanoscale Electrical Transport Measurement Using Multiple-Scanning-Probe Microscope久保 理, 新ヶ谷 義隆, 青野 正和, 中山 知信. 6th MPI-MF & NIMS Workshop. 2008. 招待講演NIMS著者新ヶ谷 義隆青野 正和中山 知信Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:36:13 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:41:56 +0900
