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幅広い温度でのSTAM計測に向けた測温探針TEMホルダー

著者川本 直幸, 掛札 洋平, 山田 勇, 畠山 達彦, 三留 正則, 森 孝雄, ゴルバーグ デミトリ.
会議名日本顕微鏡学会第76回学術講演会 http://conference.wdc-jp.com/microscopy/conf2020/program.html
発表年2020
言語Japanese

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