HOME > 口頭発表 > 書誌詳細幅広い温度でのSTAM計測に向けた測温探針TEMホルダー川本 直幸, 掛札 洋平, 山田 勇, 畠山 達彦, 三留 正則, 森 孝雄, ゴルバーグ デミトリ. 日本顕微鏡学会第76回学術講演会 http://conference.wdc-jp.com/microscopy/conf2020/program.html. 2020.NIMS著者川本 直幸三留 正則森 孝雄ゴルバーグ デミトリMaterials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2021-01-21 03:00:18 +0900更新時刻: 2021-01-21 03:00:18 +0900
