HOME > 口頭発表 > 書誌詳細電子状態から見た Eu(Rh1–xIrx)2Si2 の温度誘起価数転移: 硬 X 線光電子分光による研究T. Matsumoto, K. Ichiki, H. Anzai, K. Abe, S. Ishihara, R. Takeshita, T. Uozumi, 佐藤仁, A. Rousuli, 上田 茂典, Y. Taguchi, T. Fujimoto, E. Kishaba, A. Mitsuda, H. Wada, 三村功次郎. 第30回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム. 2017年01月07日-2017年01月09日.NIMS著者上田 茂典Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:09:53 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:02:53 +0900