電子状態から見た Eu(Rh1&#8211;xIrx)2Si2 の温度誘起価数転移: 硬 X 線光電子分光による研究

電子状態から見た Eu(Rh1–xIrx)2Si2 の温度誘起価数転移: 硬 X 線光電子分光による研究

T. Matsumoto, K. Ichiki, H. Anzai, K. Abe, S. Ishihara, R. Takeshita, T. Uozumi, 佐藤仁, A. Rousuli, 上田茂典, Y. Taguchi, T. Fujimoto, E. Kishaba, A. Mitsuda, H. Wada, 三村功次郎.

第30回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム. January 07, 2017-January 09, 2017.

NIMS author(s)

UEDA, Shigenori

Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)

Created at: 2017-01-08 04:09:53 +0900Updated at: 2018-06-05 14:02:53 +0900