HOME > 口頭発表 > 書誌詳細高エネルギーX線散乱とXAFSを用いたアモルファスInGaZnO4の構造解析(Structure of amorphous InGaZnO4 revealed by a combination of high-energy X-ray total scattering and EXAFS measurements)小原 真司, 坂田 修身, ロク シンガプリゲ ロシャンタ クマーラ, ヤンアンリ, ソン チョルホ, 大橋 直樹, 尾原幸治, 田尻寛男, 伊奈稔哲, アコラ ヤッコ, 細川 伸也, 田原周太, 石川恭兵, 平松秀典, 細野秀雄, 神谷利夫. TOEO-9. 2015.NIMS著者小原 真司大橋 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:04:18 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:11:39 +0900