HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Si(111)4´1-In 電気伝導度の温度依存性測定(Temperature dependence of the electronic conductance of Si(111)4x1-In)内橋 隆, ウルス・ラムスペルガー, 根城 均, ウルス・ラムスペルガー. 日本物理学会2001年秋季大会. 2001年09月17日-2001年09月20日.NIMS著者内橋 隆Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 02:25:18 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:19:09 +0900