SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 詳細

口頭発表の表示

著者名永井康介, 外山健, 長谷川雅幸, 西山裕孝, 鈴木雅秀, A. Almazouzi, E. van Walle, R. Gerard, 大久保 忠勝, 宝野 和博.
タイトル陽電子消滅法と3次元アトムプローブ法による実機監視試験片の解析
会議名日本金属学会2006年秋季大会
発表年2006
言語Japanese
外部での文献参照

▲ページトップへ移動