陽電子消滅法と3次元アトムプローブ法による実機監視試験片の解析

永井康介, 外山健, 長谷川雅幸, 西山裕孝, 鈴木雅秀, A. Almazouzi, E. van Walle, R. Gerard, 大久保忠勝, 宝野和博.

日本金属学会2006年秋季大会 . 2006.

Created at: 2017-02-14 11:00:58 +0900Updated at: 2017-07-10 19:49:15 +0900