HOME > 口頭発表 > 書誌詳細B20型Cr_0.81_Mn_0.19_Geにおける異常ホール効果測定渡辺 和貴, 石藤 涼, 井口 亮, 内田 健一, 佐藤 徹哉. 日本物理学会 第74回年次大会. 2019.NIMS著者井口 亮内田 健一Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2019-03-26 03:00:46 +0900更新時刻: 2019-03-26 03:00:46 +0900
