硬X線光電子分光法によるa-Si/BaSi2のバンドアライメント測定
(Measurement of band alignment at a-Si/BaSi2 interfaces using hard x-ray photoemission spectroscopy)
第63回応用物理学会春季学術講演会. 2016年03月19日-2016年03月22日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 03:21:05 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:22:58 +0900