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硬X線光電子分光法によるa-Si/BaSi2のバンドアライメント測定
(Measurement of band alignment at a-Si/BaSi2 interfaces using hard x-ray photoemission spectroscopy)

高部涼太, 武内大樹, W. Du, 伊藤啓太, 都甲薫, 上田 茂典, 木村昭夫, 末益崇.
第63回応用物理学会春季学術講演会. 2016.

NIMS著者


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    作成時刻 :2017-01-08 03:21:05 +0900 更新時刻 :2017-07-10 22:22:58 +0900

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