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シリコンナノワイヤ磁気抵抗効果における界面の影響
(Interfacewith a top-gate configuration)

申成權, ジーンタルン, 福間康裕, 井土 宏, 大谷義近, 深田 直樹, 石橋幸治, 小田俊理.
秋季第72回応用物理学会学術講演会. 2011.

NIMS著者


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    作成時刻 :2017-01-08 04:11:26 +0900 更新時刻 :2017-07-10 21:08:43 +0900

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