HOME > 口頭発表 > 書誌詳細極限場走査型トンネル顕微鏡によるアクティブナノ状態計測藤田 大介. 日本顕微鏡学会アクティブナノ顕微鏡研究部会第4回公開研究会. 2006. 招待講演NIMS著者藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:58:01 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:41:24 +0900