HOME > 口頭発表 > 書誌詳細オージェ電子分光法分析における電子線誘起試料損傷の 標準化とデータベース化 －SiO2 薄膜表面の損傷過程－永富隆清, 田沼 繁夫. 第32回表面科学学術講演会. 2012. 招待講演NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:49:08 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:44:16 +0900
