3DAP及び電子線ホログラフィーによる化合物半導体のドーパント・電位分布解析
(Dopant and potential analysis of compound semiconductor by atom probe tomography and electron holography)
日本顕微鏡学会第80回学術講演会. 2024年06月03日-2024年06月05日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2024-06-06 03:12:33 +0900 更新時刻: 2024-06-06 03:12:33 +0900