HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Multiple-scanning-probe microscopy on metal silicide nanowires and carbon nanotubes)中山 知信, 久保 理, 新ヶ谷 義隆, Dokyung Lim, 樋口 誠司, 富本 博之, 李 万燕, 青野 正和. International Conference on Nanoscience and Technology. 2006.NIMS著者中山 知信新ヶ谷 義隆青野 正和Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:56:12 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:41:07 +0900