HOME > 口頭発表 > 詳細走査SQUID顕微鏡による薄膜中の欠陥、電流、量子化磁束の同時評価(Simultaneous Characterization of Defects, Quantized Magnetic Flux and Current Flows in Oxide Superconducting Thin Films. )著者有沢 俊一, ユン キョンソン, 羽多野 毅, 井口 家成, Kazuhiro Endo, Tetsuji Uchiyama. 会議名E-MRS 2013 Spring Meeting発表年2013言語Japanese
