SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

走査SQUID顕微鏡による薄膜中の欠陥、電流、量子化磁束の同時評価
(Simultaneous Characterization of Defects, Quantized Magnetic Flux and Current Flows in Oxide Superconducting Thin Films. )

有沢 俊一, ユン キョンソン, 羽多野 毅, 井口 家成, Kazuhiro Endo, Tetsuji Uchiyama.
E-MRS 2013 Spring Meeting. 2013.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2017-01-08 05:04:18 +0900 更新時刻 :2017-07-10 21:32:38 +0900

    ▲ページトップへ移動