HOME > Presentation > DetailAlGaN/GaNヘテロ構造の界面電子物性評価(Electrical Characterization of AlGaN/GaN Hetero-Interfaces)中野 由崇, 色川 芳宏, 竹口 雅樹. 2009年春季 第56回応用物理学関係連合講演会. March 30, 2009-April 02, 2009.NIMS author(s)IROKAWA, YoshihiroTAKEGUCHI, MasakiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 04:26:36 +0900 Updated at: 2017-07-10 20:28:16 +0900