HOME > 口頭発表 > 書誌詳細SDDを用いた蛍光収量法による微量元素のX線吸収測定(X-ray absorption of trace elements by fluorescence yield with silicon-drift detector)村田 秀信, 谷口 尚, 山本知之. UVSORシンポジウム2013. 2013.NIMS著者谷口 尚Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:00:37 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:45:58 +0900