高分子薄膜のヤング率測定
(Youngs Modulus measuement of Organic films using Cantilever sensors)
VASSCAA-4. 2008年10月28日-2008年10月31日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-14 11:41:08 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:20:23 +0900