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電子スピン共鳴によるリンドープホモエピタキシャルダイヤモンド薄膜の欠陥評価
(ESR characterization of defects in phosphorus-doped homoepitaxial diamond films)
第65回応用物理学会学術講演会. September 01, 2004-September 04, 2004.
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Created at: 2017-01-08 03:43:13 +0900 Updated at: 2017-07-10 19:04:45 +0900