HOME > 口頭発表 > 書誌詳細2次電池負極材料用アモルファスSiOのアトムプローブ解析(Atom probe tomography study on amorphous SiO anode materials)大久保 忠勝, セペリ アミン ホセイン, H. Yamamura, T. Saito, H. Iba, M. Ohnuma, 宝野 和博. Atom Probe Tomography & Microscopy 2014. 2014.NIMS著者大久保 忠勝セペリ アミン ホセイン宝野 和博Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 05:36:37 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:59:37 +0900