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2次電池負極材料用アモルファスSiOのアトムプローブ解析
(Atom probe tomography study on amorphous SiO anode materials)

大久保 忠勝, セペリ アミン ホセイン, H. Yamamura, T. Saito, H. Iba, M. Ohnuma, 宝野 和博.
Atom Probe Tomography & Microscopy 2014. 2014.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2017-01-08 05:36:37 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:59:37 +0900

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