HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Studies of neutral and charged point defects in BaSi2クマール ムケシュ, 梅澤 直人, 今井 基晴. 28th International Conference on Defects in Semiconductors. 2015.NIMS著者今井 基晴Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:35:00 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:12:46 +0900
