HOME > 口頭発表 > 書誌詳細原子レベル観察用STEMの問題点(Technical Problems of Atomic Resolved STEM)古屋 一夫, 三石 和貴, 竹口 雅樹. 日本電子顕微鏡学会第58回学術講演会. 2002年05月14日-2002年05月16日.NIMS著者三石 和貴竹口 雅樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 02:41:09 +0900 更新時刻: 2018-05-30 18:53:28 +0900