HOME > 口頭発表 > 書誌詳細照射下クリープ疲労試験装置の開発(Development of In-Beam Creep-Fatigue Machine)永川 城正, 村瀬 義治, 山本 徳和. IEA/Joupiter joint Symposium on Small Specimen Technologies for . 1996年03月13日-1996年03月16日.NIMS著者村瀬 義治Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:17:05 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:35:45 +0900