Real-space visualization of conductive holes in organic transistors by operando photoemission electron microscopy
The 14th International Conference on LEEM/PEEM. 2026年10月05日-2026年10月09日.
NIMS著者
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作成時刻: 2026-10-23 03:06:56 +0900 更新時刻: 2026-10-23 03:06:56 +0900