表面、超薄膜、ナノ構造体の放射光による構造評価
(Structure evaluation of ultra-thin films and nanomaterials on a crystal substrate using synchrotron-based X-ray diffraction)
先端ナノデバイス・材料テクノロジー第151委員会 第5回研究会. 2014. 招待講演
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-14 11:08:02 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:45:30 +0900