HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Si表面上吸着再構成構造におけるRHEEDパターンの機械学習解析(RHEED pattern analysis for Si surface superstructure using machine learning)吉成 朝子, 永村 直佳, 岩崎 悠真, 小嗣 真人. 第68回応用物理学会春季学術講演会. 2021年03月16日-2021年03月19日.NIMS著者永村 直佳Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-04-15 03:25:36 +0900更新時刻: 2022-04-15 03:25:36 +0900