HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Ptナノギャップメモリ素子の高温環境下における劣化現象の解明乙津 和希, 菅 洋志, 塚越 一仁, 内藤 泰久. 2019年日本表面真空学会学術講演会. 2019.NIMS著者塚越 一仁Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2020-03-07 03:00:22 +0900更新時刻: 2020-03-07 03:00:22 +0900
