単粒子測定を用いたシリコン1粒子の初回充電反応解析
(Measurement of first charging reacion of one Si particle by single particle measurement technique)
表面技術協会第132回講演大会. 2015.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:43:28 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:12:03 +0900