HOME > Presentation > Detail単粒子測定を用いたシリコン1粒子の初回充電反応解析(Measurement of first charging reacion of one Si particle by single particle measurement technique)西川 慶, 文 珍嬉, リ チュンイェン, 金村 聖志. 表面技術協会第132回講演大会. September 09, 2015-September 10, 2015.NIMS author(s)NISHIKAWA, KeiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 11:43:28 +0900Updated at: 2017-07-10 22:12:03 +0900