HOME > Presentation > Detail近接場光学顕微鏡によるイオン伝導体ナノ結晶の評価長田 実, 寺部 一弥, 梁 長浩, 長谷川 剛. 科研費特定領域「ナノイオニクス」A04班会議 . May 19, 2006-May 20, 2006.NIMS author(s)TERABE, KazuyaFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 11:02:26 +0900 Updated at: 2017-07-10 19:37:55 +0900