多探針SPMによる電気伝導計測とナノデバイス開発貢献への課題
(Measurement of electrical conduction in nanowires by using multiple-scanning-probe microscope and problems for contribution to development of nanodevices)
ナノプローブテクノロジー第167委員会第53回研究会. 2009. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:15:12 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:42:14 +0900