HOME > Presentation > Detail放射光を活用した材料特性・素子特性の評価大橋 直樹, 坂田 修身. TXテクノロジーショーケース in つくば2012. 2012.NIMS author(s)OHASHI, NaokiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 11:18:57 +0900Updated at: 2017-07-10 21:15:45 +0900