放射光オペランド顕微分光による動作中デバイスの電子状態観測
(Synchrotron X-ray operando spectral imaging to observe electronic states in operating transistors)
第28回日本MRS年次大会. 2018年12月18日-2018年12月20日. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2018-09-15 16:14:48 +0900更新時刻: 2024-03-05 12:20:47 +0900