HOME > 口頭発表 > 書誌詳細電子分光法によるゲート金属-絶縁膜界面のバンドアライメント測定(Band Alignment Measurement at Metal Gate- Insulating Film Interfaces by Photoelectron Spectroscopy)吉武 道子, ソン ウェイジェ, 知京 豊裕. 第67回応用物理学学術講演会. 2006年08月29日-2006年09月01日.NIMS著者吉武 道子知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:41:29 +0900 更新時刻: 2018-05-30 19:47:08 +0900