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NIMS Awardシンポジウム2026

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Electron microscopy investigation of laterally overgrown α-Ga2O3

L. Penman, M. Maruzane, OSHIMA, Yuichi, P. R. Edwards, R. W. Martin, F.C-P. Massabuau.
21st International Conference on Defects Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP21). 2026年08月30日-2026年09月03日.

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

    作成時刻: 2026-09-11 03:07:15 +0900 更新時刻: 2026-09-11 03:07:15 +0900

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