HOME > 口頭発表 > 詳細オパール薄膜の構造色を利用したひずみ評価に関する基礎的検討(Basic study of strain estimation using opal film)著者田中義和, 有尾一郎, 不動寺 浩, 澤田 勉. 会議名平成23年度 春季講演大会発表年2011言語Japanese