HOME > 口頭発表 > 書誌詳細MgB2薄膜における臨界電流密度の磁場依存性(Dependence of Critical Current Density on Magnetic Field of MgB2 Thin Films)山本浩之, 塚本晃, 長谷川晴弘, 齋藤和夫, 岡田道哉, 北口 仁. 応用物理学会. 2005年09月07日-2005年09月11日.NIMS著者北口 仁Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:15:39 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:21:20 +0900